綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
簡(jiǎn)要描述：12“ 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)：最大可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；可滿(mǎn)足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
產(chǎn)品型號(hào)：CH-8- 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間：2023-06-20
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：1613
特點(diǎn)/應(yīng)用 ◆ 12" 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 最大可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試 ◆ 同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線(xiàn)性移動(dòng) ◆ 大手柄驅(qū)動(dòng)，操作舒適，無(wú)回程差設(shè)計(jì) ◆ 針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能 ◆ 可搭配多種類(lèi)型顯微鏡 ◆ 晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等 ◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì)，可無(wú)縫升級(jí) ◆ 探針臺(tái)可根據(jù)客戶(hù)要求定制。 |  |
12" 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)
顯微鏡類(lèi)型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 |
放大倍率 | 16X-200X/20X-4000X |
移動(dòng)行程 | X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉(zhuǎn)，Z軸行程50.8mm |
光源 | 外置LED環(huán)形光源/同軸光源 |
CCD | 200萬(wàn)像素/500萬(wàn)像素/1200萬(wàn)像素 |
X-Y-Z移動(dòng)行程 | 12mm*12mm*12mm |
移動(dòng)精度 | 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
吸附方式 | 磁力吸附/真空吸附 |
線(xiàn)纜 | 同軸線(xiàn)/三軸線(xiàn) |
漏電精度 | 10pA/100fA/10fA |
固定探針 | 彈簧固定/管狀固定 |
接頭類(lèi)型 | BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚(yú)夾/接線(xiàn)端子 |
針尖直徑 | 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
針尖材質(zhì) | 鎢鋼/鈹銅 |
可選附件
加熱臺(tái) |
顯示器 |
轉(zhuǎn)接頭 |
射頻測(cè)試配件 |
屏蔽箱 |
光學(xué)平臺(tái) |
鍍金卡盤(pán) |
光電測(cè)試配件 |
高壓測(cè)試配件 |
顯微鏡快速傾仰裝置 |
激光系統(tǒng) |
探針卡夾具 |
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